粉末X線回折装置
薄膜構造評価X線回折装置
ラングカメラ
高出力型X線回折実験装置は、X線回折法により原子レベルの物性評価を行うことを目的とした実験装置です。この装置は、粉末やバルク試料の室温および高温(~1500℃)状況下における物性評価を行う粉末X線回折装置、単結晶の格子欠陥を調べるラングカメラ、薄膜材料の面内配向や表面構造を調べる薄膜構造評価X線回折装置、回転対陰極式の高出力X線発生装置(18kW)により構成されています。
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