埼玉工業大学

物質の単結晶（0.2mm角程度）にＸ線を当てると、回折現象によりＸ線が四方八方に散乱します。この回折Ｘ線の放出される角度と強度を精密に測定し、コンピュータで計算すると、結晶中の個々の原子の相対位置が分かります。主に分子の「形」を原子レベルでとらえる目的で使用されます。