WD/EDコンバインマイクロアナライザ
電子線による豊富な情報を分析（EPMA）
高速・高精度の定性や定量，元素の分布状態を示す面分析など，微小部から広領域までの多種多様な分析が簡単に行なえるようにした装置です。新素材，触媒，半導体などの材料開発，鉱物や隕石など地球や宇宙の研究にも活用できます。
電子線による豊富な情報を分析（EPMA）
低真空走査電子顕微鏡による分析（SEM）
制御から画像の表示，記録までの操作をパソコンのマウスで行なうことができるPC－SEMです。高分解能観察と非導電性試料の無蒸着観察から元素分析まで対応可能な多目的の高性能走査電子顕微鏡です。
低真空走査電子顕微鏡による分析（SEM）
蛍光X線による成分分析（エレメントアナライザ）
エネルギー分散形の蛍光Ｘ線分析システムで，試料を構成する元素の種類とその組成比を分析します。固体，液体を問わず分析可能で，岩石鉱物，金属材料，陶磁器，紙，工場廃液，オイルなど広範な試料がそのまま測定できます｡
蛍光X線による成分分析（エレメントアナライザ）